Analytik Jena B-100YP表面檢查燈檢查精密加工表面的瑕疵、污點、異物、灰塵等
Analytik Jena B-100YP表面瑕疵檢查燈可快速檢查加工表面的瑕疵，灰塵，異物等小至10微米的瑕疵、小顆粒，高強度抗沖擊外殼由有Cool-Touch阻熱材料制造，可長時間工作不產(chǎn)生高溫。
表面晶粒檢查燈應用：LCD濾光片、偏光板、晶圓、半導體、玻璃或金屬表面刮痕及灰塵檢查

主要特點
•檢查精密加工表面的瑕疵、污點、異物等
•快速無損檢測小至10微米的瑕疵、小顆粒
•有效地探測出生產(chǎn)過程是早期的污物，節(jié)省生產(chǎn)時間及不必要的成本
•100瓦高強度汞燈發(fā)出543,574及576nm波長光譜
•黃色濾色片濾掉波長小于500nm的光線，防止產(chǎn)生熒光干擾
•高對比度的光線能清晰檢測到精細的表面粒子
•B-100Y是鋁合金外殼; B-100YP帶塑料外殼
•燈頭人體工學設計，易于操作

Analytik Jena B-100Y和B-100YP
黃色濾光片能濾掉波長小于500nm的光線，產(chǎn)生543nm、574和576nm的光線。高對比度的光線可檢測表面小于10微米的顆粒。b-100Y鋁合金外殼，B-100YP帶塑料外殼。

B-100YP表面檢查燈技術規(guī)格
功率：100W
紫外光源：長波365nm
濾色片：黃光
尺寸：B-100Y：216X140mm
重量：5.33kg
電源線：2.44米
B-100YP：248X152mm
重量：5.67kg
電源線：2.44米

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